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Beschreibung

Wenn aus Oberflächenmesstechnik Oberflächenqualität wird
Optische 3D-Oberflächenprofilierung der nächsten Generation

Für die Messung feinster Details in Oberflächen sind die optischen Profilmesssysteme der TopMap-Serie die bevorzugte Lösung. Von Mikroskopen bis hin zu Makroskopen hat Polytec ein Produkt, das den anspruchsvollsten Anwendungsanforderungen gerecht wird. Seit 1967 liefert Polytec weiterhin führende Oberflächenmesstechnik. Die optischen Profiler der neuesten Generation, TopMap Micro.View, bieten beispiellose Fähigkeiten. Analysieren Sie alle Arten von Oberflächen auf Rauheit, Mikrostrukturverschleiß, Dichtungsleistung und vieles mehr. Die optische, berührungslose Topographiemessung hilft, enge Toleranzen in der Feinmechanik einzuhalten und hebt die Qualitätskontrolle von Funktionsoberflächen auf ein ganz neues Niveau.

Zuverlässig, präzise, ​​innovativ
Identifizieren und dokumentieren Sie Fehler und visuelle Verzerrungen mit der neuesten Bildanalyse mit Farbinformationen. Quantifizieren Sie die Oberflächentopographie mit einer Auflösung im Subnanometerbereich und erfassen Sie zuverlässig feinste Details.

Mit der integrierten CST Continuous Scanning Technology nutzt das optische Profilmessgerät den gesamten Verfahrweg für eine reibungslose und kontinuierliche Messung. Das bedeutet mehr Positionierungsfreiheit, schnelleres Einrichten und weniger Wartung.

Die neuen optischen Oberflächenprofilierer TopMap Micro.View analysieren Oberflächendetails wie Rauheit, Textur und Mikrostrukturen mit Nanometerauflösung!

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